测定方法及测定系统

摘要

一种测定方法及测定系统，用于集成电路中测定嵌入式存储器宏模组的数据存取时间。单一外部测试信号输入至嵌入式存储器宏模组以致能数据输入，并获取数据输出。单一外部测试信号的脉冲宽度以递增方式增加，直到获得数据输出的闩锁。接着，可以获得数据存取时间，且其实质上等于增加后的脉冲宽度的时间间隔。本发明排除了在现有设计上任何时序偏移的问题。由于本发明只需要较少的测试电路，其实现设计较简单，且精确地测量也变得简单很多。

主权项

1.一种测定方法，用以测定一嵌入式存储器宏模组的一数据存取时间，其特征在于，该测定方法包括：提供一单一外部测试信号至该嵌入式存储器宏模组，以致能一预设输入并获得与该预设输入相对应的来自该嵌入式存储器宏模组的输出；其中，获得该输出的方式为：在一或多个测试周期内，以递增方式增加该单一外部测试信号的脉冲宽度，直到获得该输出；以及其中，该嵌入式存储器宏模组的数据存取时间等于获得该输出时该单一外部测试信号的增加后的脉冲宽度的一时间间隔。