可降低噪声干扰的测试端口处理方法

摘要

本发明公开了一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法，可以应用于待测组件进行检测或软件刻录，该处理方法包括：提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口，将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联，该零欧姆电阻单元的第二端与测试端口电性连接，最后，在检测或软件刻录完毕后，将该零欧姆电阻单元的第一端与待测系统断开，形成断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地，以降低噪声产生的机率并增加电路布线的灵活性。

主权项

1、一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法，应用于检测或软件刻录的待测组件上，其特征在于，该方法包括：提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口；将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联，该零欧姆电阻单元的第二端与所述测试端口电性连接；在检测或软件刻录后，将该零欧姆电阻单元的第一端与所述待测系统断开，呈断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地，阻断信号源产生。