发明名称 形成包封器件和结构的方法
摘要 本发明公开了一种形成包封器件和结构的方法。在一个实施例中,一种电子器件封装(1)包括具有标记(3)的引线框(2)。电子芯片(8)用单元片附着层(9)附着于标记(3)。具有完全侧壁的沟道(16)形成于电子芯片(8)附近的标记(3)内,并包围芯片(8)的外周。包封层(19)覆盖芯片(8)、标记(3)的一部分和弯曲沟道(16)的至少一部分。弯曲沟道(16)减小了芯片附着期间单元片附着材料通过标记(3)的扩散,其减小了芯片和封装破裂问题,并改善了包封层(19)的粘着。弯曲沟道(16)的形状防止单元片附着材料流入弯曲沟道(16)内,这允许包封层(19)粘着于弯曲沟道(16)的表面。
申请公布号 CN101488464A 申请公布日期 2009.07.22
申请号 CN200910008213.8 申请日期 2004.06.25
申请人 半导体元件工业有限责任公司 发明人 斯蒂夫·圣·杰曼;迈克尔·J·塞登
分类号 H01L21/50(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L21/58(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/544(2006.01)I 主分类号 H01L21/50(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 杨国权
主权项 1. 一种用于形成电子器件封装的方法,其特征在于,包括如下步骤:提供支持基片,其包括标记和形成于标记键合表面中的第一连续沟道,其中,第一连续沟道延伸进所述标记的仅一部分,以及其中第一连续沟道具有连续圆形的剖面形状、弯曲侧壁表面以及内缘;用单元片附着材料将具有第一周边的第一电子芯片附着于键合表面,同时使用第一连续沟道限制单元片附着材料在键合表面上的流动,其中第一周边与所述内缘对准,并且其中第一连续沟道围绕第一电子芯片;和用保护层覆盖第一电子芯片和标记部分,其中保护层覆盖弯曲侧壁表面的至少一部分。
地址 美国亚利桑那