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PROCESSO E DISPOSITIVO PARA MEDIR CONTINUAMENTE A ESSPESSURA DE FILMES PLáSTICOS EXTRUSADOS. A presente invenção refere-se a um processo e equipamento para medição da espessura de filmes plásticos, de maneira contínua e sem contato, com o uso de um sensor capacitivo. Essa medição pode ser feita de 3 maneiras; com o uso de um anteparo metálico fixo (3), cuja distância até o sensor capacitivo é fixa; outra maneira, é com o uso de um anteparo metálico não-uniforme (6) cuja distância até o sensor capacitivo n~o é fixa ao longo da largura do filme, sendo essa distância medida constantemente por um sensor eddy-current (7). Esta distância medida serve para re-calibraç~o constante da fórmula que relaciona a capacitáncia medida com a espessura do filme. A terceira modalidade de medição é com o uso somente de um sensor capacitivo (8), encostado ou quase encostado ao filme sem o uso de nenhum anteparo metálico.
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