发明名称 | 抗电磁波之薄膜结构 | ||
摘要 | 本发明系揭露一种抗电磁波之薄膜结构,其包含一金属膜及一可挠性高分子(基底)层,特别是一种利用真空溅镀技术在可挠性高分子(基底)层上以堆叠金属原子之方式,形成一连续之金属膜以部分面积或完全覆盖住可挠性高分子(基底)层,即可以较薄之厚度有效降低因电磁波所造成的电磁干扰(EMI)及无线电干扰(RFI)的问题,其电磁屏蔽效率更可达99.99999%以上,几乎可完全遮蔽电磁波。 | ||
申请公布号 | TW200924632 | 申请公布日期 | 2009.06.01 |
申请号 | TW096144203 | 申请日期 | 2007.11.21 |
申请人 | 宏远兴业股份有限公司 | 发明人 | 叶清来;李国维 |
分类号 | H05K9/00(2006.01) | 主分类号 | H05K9/00(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 杨长峰 | |
主权项 | |||
地址 | 台南县山上乡明和村256号 |