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发明名称
INSPECTION SYSTEM FOR TRACING DEFECTS OF OPTICAL FILM USING CONTACT IMAGE SENSOR(CIS) MODULE
摘要
申请公布号
KR20090054137(A)
申请公布日期
2009.05.29
申请号
KR20070120862
申请日期
2007.11.26
申请人
KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE
发明人
CHON, BYONG HYOK;RHEE, HYUG GYO;LEE, HOI YOUN;LEE, YUN WOO
分类号
G01N21/958;G01N21/88
主分类号
G01N21/958
代理机构
代理人
主权项
地址
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