发明名称 Beleuchtungseinrichtung, Verwendung der Beleuchtungseinrichtung bei flächigen Substraten und Inspektionseinrichtung mit Beleuchtungseinrichtung
摘要 Es ist eine Beleuchtungseinrichtung (80) für die Inspektion von flächigen Substraten offenbart. Das flächige Substrat (6) umfasst einen oberen Randbereich (6a), einen unteren Randbereich (6c) und einen Stirnbereich (6b). Die Beleuchtungseinrichtung (80) ist als Kreisringsegment (81) ausgebildet und besitzt eine Öffnung (82), in die zumindest der Randbereich des flächigen Substrats (6) hineinragt. Eine Vielzahl von Lichtquellen (120) sind auf einem Kreisringsegment (81) in einem Gehäuse angeordnet. Im Innern des Gehäuses ist ein reflektierendes Element (103) vorgesehen, sodass das Licht der Lichtquellen (120) nicht senkrecht auf den oberen Randbereich (6a), den unteren Randbereich (6c) und den Stirnbereich (6b) des flächigen Substrats (6) trifft.
申请公布号 DE102007047352(A1) 申请公布日期 2009.04.16
申请号 DE200710047352 申请日期 2007.10.02
申请人 VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH 发明人 HOFMANN, MICHAEL;KRAMPE-ZADLER, CHRISTOF;HAHN, KURT
分类号 G01N21/95;G21K7/00 主分类号 G01N21/95
代理机构 代理人
主权项
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