发明名称 |
Vertikaldiode unter Verwendung von Silizium, ausgebildet durch selektives epitaxiales Aufwachsen |
摘要 |
Einige Ausführungsformen betreffen eine Vorrichtung, die das Auftreten einer Vertikaldiodenaktivität zwischen einem halbleitenden Körper und einem epitaxialen Film zeigt, der über einem Dotierungsgebiet des halbleitenden Körpers angeordnet ist. Einige Ausführungsformen enthalten eine Vorrichtung, die sowohl eine Vertikal- als auch Lateraldiodenaktivität verursacht. Einige Ausführungsformen enthalten eine gategesteuerte Vertikaldiode für eine Halbleitervorrichtung mit Steg. Zu Prozessausführungsformen zählen die Formation einer Vertikaldiodenvorrichtung.
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申请公布号 |
DE102008038552(A1) |
申请公布日期 |
2009.04.16 |
申请号 |
DE200810038552 |
申请日期 |
2008.08.20 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
JENEI, SNEZANA;PACHA, CHRISTIAN;RUSS, CHRISTIAN;SCHRUEFER, KLAUS |
分类号 |
H01L29/861;H01L21/329 |
主分类号 |
H01L29/861 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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