一种挠性电子元件弯曲测试装置

摘要

本发明系关于一种挠性电子元件弯曲测试装置，用以对挠性电子元件在弯曲状态进行效能检测，此装置包括一夹持元件，系夹持该挠性基板之二端；至少一推抵元件，具有至少一弧面；一致动元件，致动该推抵元件移动而推抵该挠性基板，使该挠性基板依该弧面而弯曲；及一检测组件，系于该挠性基板弯曲时检测一测试接点。此装置可提供张力及压缩力之弯曲测试，且曲率半径可自由变化，于相同基板上的各点能同时量测，并且可对挠性电子元件进行反覆弯曲测试，藉由此装置可以获得挠性电子元件在弯曲时及反覆弯曲后的特性变异。