发光二极体导通电压检测方法

摘要

本发明系有关于一种发光二极体导通电压检测方法，其主要系由发光二极体电极图形比较发光二极体导通电压，利用该发光二极体之正电极(P型)与负电极(N型)之总长来与该发光二极体之整体面积换算比值，即能检测出该发光二极体导通电压之高低；藉此，以减少设计上所花费的时间，同时降低制作成本，而在其整体施行使用上更增实用功效特性者。