发明名称 浮栅闪存场效应晶体管
摘要 本发明提供了一种浮栅闪存场效应晶体管,属于微电子半导体技术领域。该浮栅闪存场效应晶体管包括:源区、漏区、体以及顶栅,顶栅由多晶硅控制栅和浮栅组成,浮栅与控制栅、浮栅与体之间均设有栅氧,在顶栅的对而增加设置一背栅,背栅为掺杂的单晶硅,该背与体固定连接,形成P-N结。本发明将浮栅闪存场效应晶体管器件的顶栅的两个作用分开,用含有浮栅的顶栅单独存储数据,可避免发生为了抑制泄漏电流而不得不减弱存储数据能力的情形;用掺杂的单晶硅作为背栅,控制器件的泄漏电流,可满足90纳米以下闪存场效应晶体管器件结构的设计要求。
申请公布号 CN100479193C 申请公布日期 2009.04.15
申请号 CN200410009435.9 申请日期 2004.08.17
申请人 北京大学 发明人 陈刚;黄如;张兴;王阳元
分类号 H01L29/788(2006.01)I;H01L29/772(2006.01)I 主分类号 H01L29/788(2006.01)I
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所 代理人 贾晓玲
主权项 1、一种浮栅闪存场效应晶体管,包括:源区、漏区、体以及顶栅,顶栅是由多晶硅控制栅和浮栅组成,浮栅与多晶硅控制栅、浮栅与体之间均设有栅氧,其特征在于:浮栅与体通过栅氧连接,在顶栅的对面增加设置一背栅,背栅为掺杂的单晶硅,背栅与体固定连接,形成P-N结,背栅与浮栅之间的间距控制在顶栅的长度的1/3~1范围。
地址 100871北京市海淀区颐和园路5号
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