| 发明名称 | 用于缺陷增强的方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种用于缺陷增强的方法，该方法包括：在验证过程期间，显示电路中与可疑缺陷相关的部分的第一图像；根据可疑缺陷的类型，在第一图像上应用至少一个形态操作以提供处理的图像；并且显示该处理的图像。 | ||
| 申请公布号 | CN101408521A | 申请公布日期 | 2009.04.15 |
| 申请号 | CN200810175667.X | 申请日期 | 2008.07.07 |
| 申请人 | 卡姆特有限公司 | 发明人 | L·雷兹尼克;A·利维 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李镇江 |
| 主权项 | 1、一种用于缺陷增强的方法，该方法包括：在验证过程期间，显示电路中与可疑缺陷相关的部分的第一图像；根据可疑缺陷的类型在第一图像上应用至少一个形态操作以提供处理的图像；并且显示该处理的图像。 | ||
| 地址 | 以色列米格达勒埃梅克 | ||