| 发明名称 | 测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统 | ||
| 摘要 | 本发明是有关一种测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统。该测试DAC/ADC的信号噪声比的方法，包括以下步骤：输入交流图样信号至待测DAC/ADC路径；计算DAC/ADC路径输出信号的信号噪声比；及判断信号噪声比是否符合规格。该测试DAC/ADC的信号噪声比的系统包括：一数字信号产生单元，产生交流图样信号并输至待测的DAC/ADC路径；及一信号噪声比分析单元，以计算DAC/ADC路径的输出信号的信号噪声比，并判断信号噪声比是否符合规格。本发明测试DAC/ADC的信号噪声比的系统，可自行产生量测信号并分析量测结果，进而可降低操作复杂程度。本发明测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统，由于量测信号提供及对量测结果分析均由系统本身来完成，因此实施起来较为方便。 | ||
| 申请公布号 | CN101409557A | 申请公布日期 | 2009.04.15 |
| 申请号 | CN200710163145.3 | 申请日期 | 2007.10.10 |
| 申请人 | 义隆电子股份有限公司 | 发明人 | 蔡欣学;魏诚文;方智仁;李正一 |
| 分类号 | H03M1/10(2006.01)I;G01R29/26(2006.01)I | 主分类号 | H03M1/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿 宁;张华辉 |
| 主权项 | 1、一种测试DAC/ADC的信号噪声比的方法，其特征在于其包括以下步骤：输入交流图样信号至待测的DAC/ADC路径；计算所述DAC/ADC路径的输出信号的信号噪声比；以及判断所述信号噪声比是否符合规格。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹县 | ||