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发明名称
DEFECT LOCATION IDENTIFICATION FOR MICRODEVICE MANUFACTURING AND TEST
摘要
申请公布号
EP1745373(A4)
申请公布日期
2009.04.15
申请号
EP20050746564
申请日期
2005.05.09
申请人
MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人
SAWICKI, JOSEPH, D.;FERGUSON, JOHN, G.;DHAR, SANJAY;ROBLES, JUAN, ANDRES, TORRES;RAJSKI, JANUSZ, E.
分类号
G06F17/50;G01R31/3183;G06F9/455
主分类号
G06F17/50
代理机构
代理人
主权项
地址
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