Handhabungsvorrichtung für elektronische Bauelemente, insbesondere IC's, mit temperierbaren Umlaufeinheiten

摘要

Eine Handhabungsvorrichtung für elektronische Bauelemente, insbesondere ICs, zum Temperieren sowie Zuführen und Entfernen der Bauelemente zu bzw. von einer Testvorrichtung weist auf einer Umlaufbahn bewegbare Umlaufeinheiten mit jeweils mindestens einer Halteeinheit (12) zum Halten eines Bauelements (43) auf. Weiterhin weisen die Umlaufeinheiten Temperierkammern auf, in der sich die an den Halteeinrichtungen (12) gehalterten Bauelemente (43) befinden, so dass die Bauelemente (43) während des Transports von der Beladestation zur Teststation temperierbar sind.