Verfahren und Vorrichtung zum Testen von unbestückten, großflächigen Leiterplatten mit einem Fingertester,申请号DE200510028191-传众专利搜索

发明名称	Verfahren und Vorrichtung zum Testen von unbestückten, großflächigen Leiterplatten mit einem Fingertester
摘要
申请公布号	DE102005028191(B4)	申请公布日期	2009.04.09
申请号	DE200510028191	申请日期	2005.06.17
申请人	ATG LUTHER & MAELZER GMBH	发明人	YANENKO, EVGENY;VOLPERT, GILBERT;ROTHAUG, UWE
分类号	G01R31/28;G01R31/02;G01R31/312	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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