首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 CDMA INTEGRATED CIRCUIT DEMODULATOR WITH BUILD-IN TEST PATTERN GENERATION
摘要
申请公布号 HK1097910(A1) 申请公布日期 2009.04.09
申请号 HK20070104250 申请日期 2007.04.23
申请人 QUALCOMM, INCORPORATED 发明人 LI, TAO
分类号 G01R;G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/3187;G01R31/319;H04B;H04B1/707;H04B17/00 主分类号 G01R
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com