| 发明名称 |
Anordnung zum Untersuchen von mikroskopischen und makroskopischen Präparaten |
| 摘要 |
Eine Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer und makroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop, wobei die Scanoptik mit einer Zoom-Optik verbunden wird. Hierdurch ist eine Probenuntersuchung auch bei makroskopischen Objekten mit hoher Auflösung ermöglicht.
|
| 申请公布号 |
DE102007048089(A1) |
申请公布日期 |
2009.04.09 |
| 申请号 |
DE200710048089 |
申请日期 |
2007.10.05 |
| 申请人 |
LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH |
发明人 |
SENDROWSKI, PETER;KRESS, CLAUS |
| 分类号 |
G02B21/00 |
主分类号 |
G02B21/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
