发明名称 Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterelements in einem Substrat und ein Halbleiterelement
摘要 Ein Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterelements in einem Substrat umfasst ein Bilden einer Mehrzahl von Mikrohohlräumen und Carbidabscheidungen in dem Substrat, ein Erzeugen einer Amorphisierung des Substrats, um Kristallgitterdefekte zu bilden, und einer Dotierung des Substrats mit Dotierungsatomen, ein Ausheilen des Substrats derart, dass zumindest ein Teil der Kristallgitterdefekte unter Verwendung der Mikrohohlräume und der Carbidabscheidungen beseitigt wird, und bei dem das Halbleiterelement unter Verwendung der Dotierungsatome gebildet wird.
申请公布号 DE102008047829(A1) 申请公布日期 2009.04.09
申请号 DE200810047829 申请日期 2008.09.18
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 GILES, LUIS-FELIPE
分类号 H01L21/265;H01L21/335;H01L21/336;H01L27/12 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人
主权项
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