集成电路和用于测试该集成电路的方法

摘要

根据本发明的一集成电路包括多个单元(C1、C2、C3、C4；1)，具有用于接收控制信号(n、s、t)的第一输入(2a、2b、2c)，用于设置单元(1)的一个操作模式。单元(1)具有一个功能模式、一个扫描输入模式、一个扫描输出模式。在该功能模式(n＝1、s＝0、t＝1)中，对在一个或者多个第二输入(4a、4b)接收的信号(a、b)执行一个逻辑操作。该逻辑操作的结果通过内部节点(6)提供到一个输出(10)。在扫描输入模式(n＝0、s＝1、t＝0)中，扫描输入的一个值存储在该内部节点(6)。在扫描输出模式(n＝0、s＝0、t＝1)中，内部节点(6)的值被提供到该输出(10)。根据本发明的集成电路还具有一个评估模式(n＝1、s＝0、t＝0)，其中该输入信号(a、b)的逻辑操作的结果被存储在该内部节点(6)，并且其中该单元的输出(10)被禁止。

主权项

1.包括多个单元(C1、C2、C3、C4；1)的集成电路，具有：用于接收控制信号(n、s、t)的第一输入(2a、2b、2c)，用于设置单元(1)的操作模式，该单元被安排为在所述控制信号的控制下，用于执行到功能模式、扫描输入模式、扫描输出模式的切换，在该功能模式中，该单元被安排为在一个或多个第二输入(4a、4b)接收的信号(a、b)上执行异步的逻辑操作，把该逻辑操作的结果通过内部节点(6)而提供到输出(10)，该输出在时间上连续地返回耦合，作为所述逻辑操作的输入；在该扫描输入模式中，该单元被安排为将在扫描输入上的值存储在该内部节点(6)上；在该扫描输出模式中，该单元被安排为将在该内部节点(6)的值提供到该输出(10)，该集成电路的特征在于，该单元还被安排为在所述控制信号的控制下，用于实现向评估模式的切换，在该评估模式中，将在该输入信号(a、b)上进行的该逻辑操作的结果存储在该内部节点(6)上，并且，所述单元的输出(10)被禁止。