发明名称 用于测量板料属性的分光传感器
摘要 公开一种用于测量平板产品的分光传感器。所公开的传感器使用分光计与单通道检测器和滤波器的组合以及宽带照射源以便最优地测量平板产品的多种属性。使用分光计在某一光谱范围上进行测量的条件是需要可容易地配置的波长通道集合并且所述通道的信噪比和光谱分辨率与该分光计的光谱范围和像素数一致;同时一个或多个单通道检测器与滤波器的组合可以被用来以高信噪比在所述(多个)分光计的光谱范围内或其外部的特定波长下进行测量。因此,所述单通道检测器可以被用来补充由分光计提供的信息或者扩展分光计的工作范围,这是通过在可见光、近IR或中IR光谱区域内的任何地方提供单波长测量而实现的。
申请公布号 CN101405592A 申请公布日期 2009.04.08
申请号 CN200680053519.X 申请日期 2006.12.19
申请人 霍尼韦尔阿斯卡公司 发明人 S·蒂克西耶;D·A·戈登;F·M·哈兰
分类号 G01N21/25(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I;G01N21/86(2006.01)I;G01J3/36(2006.01)I 主分类号 G01N21/25(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 马永利;王小衡
主权项 1、一种用于测量平板产品(500)的特性的传感器(200),所述传感器(200)包括:用于向该平板产品(500)发射辐射的源;多个串联设置的分束器(212,214,216,312),用于在所述辐射与该平板产品(500)相互作用之后分离所述辐射;多个带通滤波器(220,230,250,270,280,290,350),用于对所述分离的辐射进行滤波;多个单通道检测器(235,245,265,275,285,295,335),其中每一个通道检测器(235,245,265,275,285,295,335)被耦合到一个带通滤波器(220,230,250,270,280,290,350);以及至少一个光学分光计(210,310,320,330)。
地址 加拿大安大略省