安全芯片的测试方法与系统

摘要

本发明揭示了一种安全芯片的测试方法与系统，利用移位寄存器将芯片内的随机数实时取出进行寄存，而后独立对移位寄存器内所存储的随机数进行加解密操作。从而，大大简化了芯片测试平台的设计要求，降低了测试成本。另外，移位寄存器可以自动将随机数进行实时完整的寄存，保证了测试实时性的要求，提高了安全芯片测试的可操作性与测试效率。以上方法包括：从安全芯片的接口读取其送出的随机数；将所述随机数通过移位寄存器后进行加密或解密；将所述加密或解密的结果送到所述安全芯片接口；所述安全芯片对所述加密或解密的结果与其自身的处理结果进行比对，比对结果一致，则通过身份确认，对所述安全芯片进行测试。

主权项

一种安全芯片的测试方法，其特征是，包括：从所述安全芯片的接口读取其送出的随机数；将所述随机数通过移位寄存器后进行加密或解密；将所述加密或解密的结果送到所述安全芯片接口；所述安全芯片对所述加密或解密的结果与其自身的处理结果进行比对，比对结果一致，则通过身份确认，对所述安全芯片进行测试。