发明名称 提高探针卡上探针寿命的装置
摘要 本实用新型公开了一种提高探针卡上探针寿命的装置,包括:探针卡上的多根探针,分别为探针1、探针2……探针N;每根探针通过各自连接的继电器1、继电器2……继电器N连接到测试仪的信号产生端;测试时,同一时间只有一个继电器闭合,其对应的探针工作;其他继电器断开,其相应的探针不工作;控制器分别连接每一根探针和继电器,控制器测试探针状态,并控制继电器的开关,当目前工作的探针状态异常时,控制器控制工作探针相应的继电器断开,并控制其他的某一继电器闭合,其相应的探针开始工作。本实用新型可以在原有探针发生故障的时候启用备用探针,保证测试的顺利进行。
申请公布号 CN201666899U 申请公布日期 2010.12.08
申请号 CN200920074632.7 申请日期 2009.10.22
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 辛吉升;桑浚之
分类号 G01R1/067(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 主分类号 G01R1/067(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 孙大为
主权项 一种提高探针卡上探针寿命的装置,其特征在于,包括:探针卡上的多根探针,分别为探针1、探针2……探针N;每根探针通过各自连接的继电器1、继电器2……继电器N连接到测试仪的信号产生端;测试时,同一时间只有一个继电器闭合,其对应的探针工作;其他继电器断开,其相应的探针不工作;控制器分别连接每一根探针和继电器,控制器测试探针状态,并控制继电器的开关。
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