发明名称 |
确定电子部件对粒子的敏感度的方法 |
摘要 |
为了分析电子部件,可使该部件受到聚焦激光的辐射。由激光绘图提供的与部件的敏感度区域的位置和深度有关的知识被用作预测代码中的输入参数,以量化所绘制的部件对自然辐射环境中的电离粒子的敏感度。预测代码允许评估电子部件中的故障的发生。对与辐射环境相关的风险的评估要求两个方面:第一,概率性的,考虑了粒子/物质相互作用,另一方面,电气上的,考虑了电子部件内部的电荷收集。 |
申请公布号 |
CN101910855A |
申请公布日期 |
2010.12.08 |
申请号 |
CN200880122972.0 |
申请日期 |
2008.10.23 |
申请人 |
欧洲航空防务与空间公司EADS法国;空中客车营运有限公司;阿斯特里姆有限公司 |
发明人 |
弗洛伦特·米勒;纳丁·比阿尔;塞西尔·沃伊勒尔塞;蒂埃里·卡里埃;帕特里克·海因斯 |
分类号 |
G01R31/302(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R31/308(2006.01)I;G01R31/3183(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/302(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
李春晖;李德山 |
主权项 |
一种表征电子部件对能量相互作用的敏感度的方法,其中: 使所述电子部件运行, 通过由激光辐射产生的激励来激励这样运行的所述电子部件, 测量运行中的所述电子部件对应于所述激励的功能故障, 建立对所述部件中受到这些激励影响的敏感度区域的绘图, 对敏感度区域的所述绘图应用对由引起所述能量相互作用的粒子造成的危害进行仿真的仿真程序, 所述仿真程序产生所述粒子在所述部件中的大量的可能路径,以及在中子和质子的情况下产生从数据库中提取的大量原子核反应, 所述仿真程序基于这些可能的路径和所述部件的敏感度的所述绘图来实施电荷收集模型, 所述仿真程序对这些电荷收集进行分析并且判定与这些电荷收集相关的错误的发生, 根据所述分析和判定来得出所述部件的品质信号。 |
地址 |
法国巴黎 |