发明名称 全息信息存储介质和用于检查其缺陷的设备和方法
摘要 在全息信息存储介质上记录缺陷条目,所述缺陷条目包括参考信息层的缺陷块的位置信息和状态信息,所述状态信息指示位于与参考信息层的缺陷块的位置的垂直方向相邻的其他信息层的块的缺陷状态。一种检查缺陷的方法,所述方法包括确定参考信息层中的块是否是有缺陷的,并基于参考信息层的缺陷确定的结果,确定位于与参考信息层的缺陷块的位置的垂直方向相邻的其他信息层的块是否是有缺陷的。
申请公布号 CN101911190A 申请公布日期 2010.12.08
申请号 CN200880124485.8 申请日期 2008.09.11
申请人 三星电子株式会社 发明人 黄盛凞;郑泽成
分类号 G11B7/007(2006.01)I 主分类号 G11B7/007(2006.01)I
代理机构 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人 韩明星;王青芝
主权项 一种全息信息存储介质,包括:多个信息层,以通过参考光和信号光之间的干涉产生的全息图的形式记录信息,其中,缺陷条目被记录在全息信息存储介质上,所述缺陷条目包括参考信息层的缺陷块的位置信息和指示位于参考信息层的缺陷块的垂直方向的其他信息层的块的缺陷状态的状态信息。
地址 韩国京畿道