发明名称 磁模拟器中双磁强计对准方法
摘要 本发明公布了一种磁模拟器中双磁强计对准方法,属动态模拟磁场系统磁模拟器对准方法。本发明所述方法:磁模拟器中的计算机系统能接收用户的控制指令并驱动恒流源系统输出电流从而激励线圈系统产生磁场,同时计算机系统采集磁强计输出用于闭环调节,克服环境磁场扰动,线圈系统最终产生用户的目标磁场。本发明克服环境磁场扰动,方法简单。
申请公布号 CN101488035B 申请公布日期 2010.12.08
申请号 CN200910024486.1 申请日期 2009.02.24
申请人 南京航空航天大学 发明人 华冰;郁丰;熊智;程月华;康国华;沈萍
分类号 G05F7/00(2006.01)I;G01R33/02(2006.01)I 主分类号 G05F7/00(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 魏学成
主权项 一种磁模拟器中双磁强计对准方法,该对准方法采用的磁模拟器包括计算机系统、恒流源系统、无磁转台、待测磁强计和检测磁强计,其特征在于该对准方法包括如下步骤:a)采用磁模拟器标定恒流源系统输出待测电流矢量I2到检测磁强计磁场测量值B1的系数转换矩阵N1、恒流源系统输出待测电流矢量I2到待测磁强计磁场测量值B2的系数转换矩阵N2和待测磁强计常值偏置b2;b)采用用户计算机输出磁场强度指令即待测磁强计磁场测量值B2至磁模拟器的计算机系统得到检测磁强计的磁场矢量标值: <mrow> <mi>H</mi> <mo>=</mo> <msub> <mi>M</mi> <mn>1</mn> </msub> <mfrac> <mrow> <msub> <mi>B</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>b</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>e</mi> <mn>2</mn> </msub> </mrow> <msub> <mi>N</mi> <mn>2</mn> </msub> </mfrac> <mo>,</mo> </mrow>其中b2为待测磁强计常值偏置,e2为待测磁强计测量噪声,M1为待测电流矢量I2到检测磁强计的磁场矢量标值H的系数转换矩阵;c)将步骤b所述的磁场强度指令即待测磁强计磁场测量值B2经过计算机系统输出电流强度指令至恒流源系统,恒流源系统输出检测电流矢量I1;d)采用步骤c所述的恒流源系统输出检测电流矢量I1和检测电流矢量I1到检测磁强计当地点磁场矢量H1的系数转换矩阵M12得到检测磁强计当地点下的磁场矢量H1:H1=M12I1,检测磁强计将检测磁强计当地点下的磁场矢量H1输出至计算机系统;e)当步骤d所述的检测磁强计当地点下的磁场矢量H1与步骤b所述的计算机系统得到的检测磁强计的磁场矢量标值H之差不在设定的误差范围内,则返回步骤c;f)当步骤d所述的检测磁强计当地点下的磁场矢量H1与步骤b所述的计算机系统得到的检测磁强计的磁场矢量标值H之差在设定的误差范围内,则进入步骤g;g)检测电流矢量I1等于待测电流矢量I2,待测磁强计磁场测量值B2=N2I2+b2+e2。
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