发明名称 |
X射线检查装置 |
摘要 |
本发明提供一种X射线检查装置(10),该X射线检查装置(10)能够排除X射线的能量特性、固有滤波器等各种不确定因素的影响,高精度地推定物质的质量。在该X射线检查装置(10)中,用于控制的计算机(20)的功能模块,包括:取样图像取得部(31)、理想曲线制作部(32)、曲线调整部(33)、和质量推定部(34)。取样图像取得部(31)取得10张预先知道实际质量的商品(G)的X射线透过图像。理想曲线制作部(32)根据表示X射线透过图像所包含区域的亮度与其推定质量的关系的数学式,制作表。曲线调整部(33)参照输入的各X射线透过图像的实际质量,调整表,使得推定质量接近实际质量。质量推定部(34)根据调整后的表,求取每单位区域的推定质量,然后将这些推定质量合计,求取商品(G)的推定合计质量。 |
申请公布号 |
CN101322009B |
申请公布日期 |
2010.12.08 |
申请号 |
CN200680042894.4 |
申请日期 |
2006.11.15 |
申请人 |
株式会社石田 |
发明人 |
广瀬修 |
分类号 |
G01B15/02(2006.01)I;G01G9/00(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01B15/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
龙淳 |
主权项 |
一种X射线检查装置,其根据对检查对象物照射的X射线的透过量推定所述检查对象物的质量,其特征在于,包括:照射部,其向所述检查对象物照射X射线;X射线检测部,其对从所述照射部照射并透过所述检查对象物的X射线量进行检测;取样图像取得部,其根据对多个所述检查对象物进行照射并在所述X射线检测部检测出的X射线量,取得各自的X射线透过图像;输入部,其输入各所述检查对象物的实际质量,其中,所述检查对象物是已被取得所述X射线透过图像的检查对象物;理想曲线制作部,其制作表示所述X射线透过图像所包含的各单位区域的亮度a和与之对应的各单位区域的推定质量m(a)的关系的理想曲线;曲线调整部,其根据由所述输入部输入的所述实际质量,按照各灰度等级调整在所述理想曲线制作部制作的所述理想曲线;和质量推定部,其根据在所述曲线调整部按照各灰度等级调整后的所述理想曲线推定所述检查对象物的质量。 |
地址 |
日本京都府 |