光学触控面板的测试方法及阵列测试器

摘要

本发明提供一种光学触控面板的测试方法及一种阵列测试器，该测试方法包含下列步骤：耦合负电位至共通线以关闭感光元件；耦合正电位至读取线；开启开关元件以使该正电位通过该读取线及该开关元件对该感光元件充电；关闭该开关元件预设时间；耦合该负电位至该读取线；再度开启该开关元件以通过该读取线及该开关元件读取该感光元件的电位变化；以及分析该电位变化。

主权项

一种光学触控面板的测试方法，所述光学触控面板包含多个阵列排列的像素单元，每一像素单元包含读取线、共通线、感光元件及开关元件，所述感光元件耦接所述共通线及所述开关元件，所述读取线耦接所述开关元件，所述测试方法包含下列步骤：耦合负电位至所述共通线以关闭所述感光元件；耦合正电位至所述读取线；开启所述开关元件以使所述正电位对所述感光元件充电；关闭所述开关元件预设时间；耦合所述负电位至所述读取线；再度开启所述开关元件以通过所述读取线读取所述感光元件的电位变化；及分析所述电位变化。