发明名称 |
逆磁系统中的金属抗扰性 |
摘要 |
一种用于跟踪物体的方法,包括将用于发射位置指示磁场的发射器固定到物体上,以及提供由该物体引起的该位置指示磁场的失真的映射。该物体发射的失真磁场被探测。该失真磁场包括受到该物体所引起的失真影响的该位置指示磁场。基于该探测的失真磁场确定该物体的估计坐标。该估计坐标和该映射被用于计算该物体的校正坐标。 |
申请公布号 |
CN1951325B |
申请公布日期 |
2010.12.08 |
申请号 |
CN200610135557.1 |
申请日期 |
2006.10.19 |
申请人 |
韦伯斯特生物官能公司 |
发明人 |
A·戈瓦里;A·C·阿特曼恩;Y·埃拉思 |
分类号 |
A61B5/06(2006.01)I;A61B5/05(2006.01)I;G01D5/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B5/06(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
李静岚;梁永 |
主权项 |
一种用于跟踪金属工具的设备,包括:适应于固定到该金属工具的发射器,其包括:可操作以发射位置指示磁场的发射天线;和适应于驱动该发射天线的微控制器;场传感器,其适应于检测包括受到由该金属工具所引起的失真影响的位置指示磁场的失真磁场;和处理器,其适应于基于该检测的失真磁场而估计该金属工具的坐标,以及响应于所述估计坐标和由该金属工具所引起的失真的映射而计算该金属工具的校正坐标。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |