发明名称 防止金属横向扩展的SiC基体上制备欧姆接触的方法
摘要 本发明公开了一种防止金属横向扩展的SiC基体上制备欧姆接触的方法,其包括干法刻蚀SiC基体、划定欧姆接触的区域、在上述区域淀积金属层、高温退火,形成欧姆接触,其特征在于,在淀积金属层的步骤前面,增加下述步骤:①氧化步骤:对SiC基体进行氧化,形成厚度≥的氧化层;②去除欧姆接触的区域上的氧化层。采用本发明有效防止在高温退火的过程中,熔化的金属层会发生一定的横向扩展;便于严格按照设计要求制备欧姆电极;减少了寄生参量,提高了SiC器件或电路的性能。
申请公布号 CN101882575A 申请公布日期 2010.11.10
申请号 CN201010207716.0 申请日期 2010.06.24
申请人 中国电子科技集团公司第十三研究所 发明人 霍玉柱;潘宏菽;商庆杰;齐国虎
分类号 H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L21/28(2006.01)I
代理机构 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人 夏素霞
主权项 1.一种防止金属横向扩展的SiC基体上制备欧姆接触的方法,其包括干法刻蚀SiC基体、划定欧姆接触的区域、在上述区域淀积金属层、高温退火,形成欧姆接触,其特征在于,在淀积金属层的步骤前面,增加下述步骤:①氧化步骤:对SiC基体的上表面及其相邻侧壁进行氧化,形成厚度1000~<img file="FSA00000174788800011.GIF" wi="144" he="53" />的氧化层;②去除欧姆接触的区域上的氧化层。
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