发明名称 |
驱动桥接的功率晶体管的半导体装置 |
摘要 |
半导体装置(HVIC)包含形成于半导体衬底(29)的低电位侧电路(1)、高电位侧电路(2)、假想接地电位焊盘(11)、共同接地电位焊盘(6)及二极管(D3)。低电位侧电路(1)驱动低电位侧功率晶体管(Q1)。高电位侧电路(2)设于高电位区域(HVLR),驱动高电位侧功率晶体管(Q2)。假想接地电位焊盘(11),配置在高电位区域(HVLR),与两功率晶体管(Q2,Q1)的连接节点(PA)耦合,对高电位侧电路(2)供给假想接地电位。共同接地电位焊盘(6)对低电位侧电路(1)及高电位侧电路(2)供给共同的接地电位。二极管的负极与假想接地电位焊盘(11)连接,正极与共同接地电位焊盘(6)连接。 |
申请公布号 |
CN101882885A |
申请公布日期 |
2010.11.10 |
申请号 |
CN201010143128.5 |
申请日期 |
2010.02.24 |
申请人 |
三菱电机株式会社 |
发明人 |
清水和宏 |
分类号 |
H02M7/538(2007.01)I;H01L27/06(2006.01)I |
主分类号 |
H02M7/538(2007.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
何欣亭;徐予红 |
主权项 |
一种半导体装置(HVIC),驱动高电位侧及低电位侧功率器件(Q2、Q1),其中包括:低电位侧电路(1),设于形成在半导体衬底区域(29)上的低电位区域(77),该低电位侧电路(1)驱动所述低电位侧功率器件(Q1);高电位侧电路(2),设于形成在所述半导体衬底区域(29)上的高电位区域(HVLR、76),该高电位侧电路(2)被施加高电压而驱动所述高电位侧功率器件(Q2);假想接地电位焊盘(11),配置在所述高电位区域,耦合至所述高电位侧及低电位侧功率器件(Q2、Q1)的连接节点(PA),该假想接地电位焊盘(11)对所述高电位侧电路(2)供给假想接地电位;共同接地电位焊盘(6),对所述低电位侧电路(1)及高电位侧电路(2)共同供给接地电位;以及高耐压二极管(D3),形成在所述半导体衬底区域(29)上,该高耐压二极管(D3)的负极电连接至所述假想接地电位焊盘(11),而正极电连接至所述共同接地电位焊盘(6)。 |
地址 |
日本东京都 |