| 发明名称 | 使用超声技术测量材料的厚度的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于测量多层结构的材料的厚度的方法。该方法包括用一个或多个超声换能器(5)，把包括不同频率的一个或多个超声信号发送到由两种或更多种材料(1，2)构成的多层结构中；测量材料，所述材料的声学特性在所使用的频率处是不同的；用一个或多个超声换能器测量从多层结构的前表面和后表面反射的超声信号；以及从反射的超声信号确定在多层结构内的材料的厚度。 | ||
| 申请公布号 | CN101883526A | 申请公布日期 | 2010.11.10 |
| 申请号 | CN200880119014.8 | 申请日期 | 2008.12.02 |
| 申请人 | 朱卡·朱韦林;奥西·里基伦;米科·哈库里伦 | 发明人 | 朱卡·朱韦林;奥西·里基伦;米科·哈库里伦 |
| 分类号 | A61B8/00(2006.01)I;G01N29/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B8/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李娜;李家麟 |
| 主权项 | 一种用于测量多层结构的材料的厚度的方法，其特征在于，-利用一个或多个超声换能器(5)把包括不同频率的一个或多个超声信号发送到由两种或更多种材料(1，2)构成的多层结构中，-测量材料，所述材料的声学特性在所使用的频率处是不同的，-利用一个或多个超声换能器，测量从所述多层结构的前表面和后表面反射的超声信号，-从反射的超声信号确定在多层结构内的材料的厚度。 | ||
| 地址 | 芬兰库奥皮奥 | ||