发明名称 |
用于检测入射光的光检测器及方法 |
摘要 |
一种用于检测入射光的光检测器和方法利用了一对光敏器件,在该一对光敏器件中,一个光敏器件被有选择地暴露于入射光来产生能被用来测量入射光强度的差分电流信号。该光敏器件可以是具有能够将诸如980nm或1300nm的波长较长的光转换为电流的硅锗(SiGe)吸收区的光电晶体管。该SiGe光电晶体管可以被制作在硅衬底上。 |
申请公布号 |
CN1503378B |
申请公布日期 |
2010.11.10 |
申请号 |
CN03150337.3 |
申请日期 |
2003.07.25 |
申请人 |
安华高科技光纤IP(新加坡)私人有限公司 |
发明人 |
格雷厄姆·麦克雷·弗劳尔 |
分类号 |
H01L31/028(2006.01)I;H01L31/10(2006.01)I;H01L27/14(2006.01)I;G01J1/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L31/028(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
代理人 |
宋鹤 |
主权项 |
一种光检测器,包括:第一光电晶体管,包含锗,被配置成响应入射光产生输出电流信号;第二光电晶体管,与所述第一光电晶体管电耦合,所述第二光电晶体管被配置成产生参考电流信号;和不透明层(402),位于所述第二光电晶体管上方,来阻止所述入射光到所述第二光电晶体管,因而所述参考电流信号不受所述入射光影响,所述输出电流信号和所述参考电流信号用于生成差分电流信号,从而提供对所述入射光的强度的检测。 |
地址 |
新加坡新加坡市 |