发明名称 | 一种两轴随动控制检测齿轮齿廓和螺旋线的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种两轴随动控制检测齿轮齿廓和螺旋线的方法,本方法通过位移传感器实时采集被测曲线与测头的相对位移信号,来控制从动轴的运动,同时由角位移传感器和线位移传感器分别采集两轴的位移信号,即可绘出被测曲线。再在计算机中将被测曲线与理论曲线进行比较,得到被测曲线偏差。这种测量方法中,位移传感器跟随被测曲线移动,使得可检测的被测曲线偏差范围不再受位移传感器的量程约束,扩大了测量范围。采用这种测量方法可检测齿轮上的各类连续曲线,包括圆弧齿廓、渐开线、螺旋线等,增加了可检测的曲线种类,拓展了应用领域。这种测量方法中,不需要两轴模拟出精确的理论曲线,既省却了机械展成法中的基圆盘等机械结构,又省却了电子展成法中的运动控制卡等部件,简化了电路设计。 | ||
申请公布号 | CN101419066B | 申请公布日期 | 2010.11.10 |
申请号 | CN200810062556.8 | 申请日期 | 2008.06.24 |
申请人 | 中国计量学院 | 发明人 | 赵军;刘维;孔明;吴珂;马忠祥 |
分类号 | G01B21/20(2006.01)I | 主分类号 | G01B21/20(2006.01)I |
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人 | 周烽 |
主权项 | 一种两轴随动控制检测齿轮齿廓的方法,其特征在于,包括以下几个步骤:(1)设定初始状态:将位移传感器的测头调整在被测齿轮齿廓展开长度的起始测量点上,并与齿面接触,电机带动回转轴以一定的速度转动;(2)两轴随动控制:位移传感器检测出测头与被测齿轮齿廓接触的偏移量,经由信号采集电路传输至处理器,处理器输出控制信号,调整测量滑块在齿轮基圆切线方向的移动速度,使测头与被测齿轮齿廓接触的偏移量为零,即测头沿着被测齿轮齿廓滑动;(3)再现被测齿轮齿廓:实时采集被测齿轮转动的角位移量和测量滑块移动的线位移量,经信号采集电路处理后,传输至计算机,在计算机中根据两者的运动轨迹再现出被测齿轮齿廓;(4)获得检测结果:在计算机上将被测齿轮齿廓与标准理论齿廓进行比较,得到被测齿廓偏差。 | ||
地址 | 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街 |