发明名称 |
dispositivo, método de operação de semicondutor controlável, método de determinar as condições operacionais para semicondutor controlável, método para detectar o efeito de túnel da corrente, método para determinar erros reais e potenciais na operação de semicondutor controlável, método de determinar capacidade de manipular potência de dispositivo instalado |
摘要 |
DISPOSITIVO, MéTODO DE OPERAçãO DE SEMICONDUTOR CONTROLáVEL, MéTODO DE DETERMINAR AS CONDIçõES OPERACIONAIS PARA SEMICONDUTOR CONTROLAVEL, MéTODO PARA DETECTAR O EFEITO DE TúNEL DA CORRENTE, MéTODO PARA DETERMINAR ERROS REAIS E POTêNCIAIS NA OPERAçãO DE SEMICONDUTOR CONTROLAVEL, MéTODO DE DETERMINAR CAPACIDADE DE MANIPULAR POTêNCIA DE DISPOSITIVO INSTALADO. é proposto um dispositivo (100) que inclui um semicondutor controlável (102), sensor (106), e controlador (104) O semicondutor controlável (102) é associado com um primeiro parâmetro operacional e um segundo parâmetro operacional, sendo o primeiro parâmetro operacional controlável. O sensor (106) está em comunicação com o dispositivo semicondutor controlável (102) e adquire dados relativos ao segundo parâmetro operacional. O controlador (104) está em comunicação com o dispositivo semicondutor controlável (102) e com o sensor (106). O controlador (104) é configurado de modo a acessar dados do dispositivo associados com o semicondutor controlável (102), a controlar o primeiro parâmetro operacional e a receber dados do primeiro sensor (106) relativos ao segundo parâmetro operacional. O controlador (104) determina um primeiro valor previsto dependente dos dados do dispositivo, compara os dados relativos ao segundo parâmetro operacional com o primeiro valor previsto e, se uma primeira condição for detectada com base nesta comparação, modifica dinamicamente o primeiro parâmetro operacional. |