| 主权项 |
一种距离量测系统，包括：一频率合成单元，用以于一第一周期时，产生一第一调制信号以及一第二调制信号，并于一第二周期时，产生一第三调制信号以及一第四调制信号；一光发射单元；一驱动单元，用以该第一周期时，根据该第一调制信号驱动该光发射单元，朝一目标物发出一第一光束，并于该第二周期时，根据该第三调制信号，驱动该光发射单元，朝该目标物发出一第二光束；一光混频单元，用以于该第一周期时，根据该第二调制信号以及该第一光束照射到该目标物所反射之光束，产生一第一光混频信号，并于该第二周期时，根据该第四调制信号以及该第二光束照射到该目标物所反射之光束，产生一第二光混频信号；以及一处理单元，用以在一第一模式下时，根据一参考信号与该第一光混频信号，计算出一第一相位差值，并且根据该参考信号与该第二光混频信号，计算出一第二相位差值，再根据该第一、该第二相位差值之间的差值，求出该目标物与该距离量测系统间之距离。如申请专利范围第1项所述之距离量测系统，其中该第一、该第二、该第三、该第四调制信号分别具有一第一频率、一第二频率、一第三频率以及一第四频率，并且该第一、第二调制信号之频率差系相等于该第三、该第四调制信号之频率差。如申请专利范围第2项所述之距离量测系统，其中该第一、第三调制信号之频率差系相等于该第二、该第四调制信号之频率差。如申请专利范围第1项所述之距离量测系统，其中该参考信号系由该第一、该第二调制信号混合而成。如申请专利范围第1项所述之距离量测系统，其中该参考信号系由该第三、该第四调制信号混合而成。如申请专利范围第4项所述之距离量测系统，其中该参考信号系由该频率合成单元所产生。如申请专利范围第1项所述之距离量测系统，更包括一电混频单元，用以于该第一周期时，根据该第一、该第二调制信号，产生该参考信号，或于该第二周期时，根据该第三、该第四调制信号，产生该参考信号。如申请专利范围第7项所述之距离量测系统，其中该电混频单元系为一混波器(mixer)。如申请专利范围第1项所述之距离量测系统，其中该处理单元于一第二模式下系藉由该第一相位差值，求出该目标物与该距离量测系统间之距离。如申请专利范围第1项所述之距离量测系统，其中该光发射单元系为一雷射二极体。如申请专利范围第1项所述之距离量测系统，其中该处理单元系为一数位信号处理器(digital signal processor，DSP)。一种距离量测方法，包括：藉由一光发射单元，根据具有一第一频率之一第一调制信号，朝一目标物发出一第一光束；藉由一光混频单元，根据具有一第二频率之一第二调制信号以及该第一光束经由该目标物所反射之光束，产生一第一光混频信号；根据一参考信号与该第一光混频信号，计算出一第一相位差值；藉由该光发射单元，根据具有一第三频率之一第三调制信号，朝该目标物发出一第二光束；藉由该光混频单元，根据具有一第四频率之一第四调制信号以及该第二光束经由该目标物所反射之光束，产生二光混频信号；根据该参考信号与该第二光混频信号，计算出一第二相位差值；以及根据该第一、该第二相位差值之间的差值，求出该目标物与该距离量测系统间之距离。如申请专利范围第12项所述之距离量测方法，更包括将该第一、该第二调制信号混合，以产生该参考信号。如申请专利范围第12项所述之距离量测方法，更包括将该第三、该第四调制信号混合，以产生该参考信号。如申请专利范围第12项所述之距离量测方法，其中该第一、该第二、该第三、该第四调制信号分别具有一第一频率、一第二频率、一第三频率以及一第四频率，并且该第一、第二调制信号之频率差系相等于该第三、该第四调制信号之频率差。如申请专利范围第13项所述之距离量测方法，其中该第一、第三调制信号之频率差系相等于该第二、该第四调制信号之频率差。一种距离量测系统，包括：一频率合成单元，用以于一第一周期时，产生一第一调制信号以及一第二调制信号，并于一第二周期时，产生一第三调制信号以及一第四调制信号，其中该第一、该第二、该第三、该第四调制信号分别具有一第一频率、一第二频率、一第三频率以及一第四频率，并且该第一、第二调制信号之频率差系相等于该第三、该第四调制信号之频率差，而且该第一、第三调制信号之频率差系相等于该第二、该第四调制信号之频率差；一光发射单元；一驱动单元，用以该第一周期时，根据该第一调制信号驱动该光发射单元，朝一目标物发出一第一光束，并于该第二周期时，根据该第三调制信号，驱动该光发射单元，朝该目标物发出一第二光束；一光混频单元，用以于该第一周期时，根据该第二调制信号以及该第一光束照射到该目标物所反射之光束，产生一第一光混频信号，并于该第二周期时，根据该第四调制信号以及该第二光束照射到该目标物所反射之光束，产生一第二光混频信号；以及一处理单元，用以根据一参考信号与该第一光混频信号，计算出一第一相位差值，并且根据该参考信号与该第二光混频信号，计算出一第二相位差值，再根据该第一、该第二相位差值之间的差值，求出该目标物与该距离量测系统间之距离，其中该参考信号系由该第一、该第二调制信号混合而成，或由该第三、该第四调制信号混合而成。如申请专利范围第17项所述之距离量测系统，其中该电混频信号系由该频率合成单元所产生。如申请专利范围第17项所述之距离量测系统，更包括一电混频单元，用以于该第一周期时，将第一、该第二调制信号进行混频，作为该参考信号，并于该第二周期时，将该第三、该第四调制信号进行混频，作为该参考信号。如申请专利范围第19项所述之距离量测系统，其中该电混频单元系为一混波器(mixer)。如申请专利范围第20项所述之距离量测系统，其中该光发射单元系为一雷射二极体。如申请专利范围第21项所述之距离量测系统，其中该处理单元系为一数位信号处理器(digital signal processor，DSP)。 |
