发明名称 晶片测试装置与探针卡电路
摘要 一种探针卡电路,包括讯号线、检测探针和开关模组。讯号线可以传输一测试回应讯号,并且透过开关模组耦接至检测探针。检测探针用来耦接至受测晶片的测试端。藉此,在受测晶片收到一测试电源而从测试端输出测试回应讯号时,检测探针就可以接收此测试回应讯号。另外,开关模组可以依据测试电源的状态,而决定是否将检测探针所接收的测试回应讯号导通至讯号线。
申请公布号 TWI362496 申请公布日期 2012.04.21
申请号 TW097107731 申请日期 2008.03.05
申请人 南亚科技股份有限公司 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 发明人 许家齐
分类号 G01R31/02;G01R31/28 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;叶璟宗 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号