发明名称 |
晶片测试装置与探针卡电路 |
摘要 |
一种探针卡电路,包括讯号线、检测探针和开关模组。讯号线可以传输一测试回应讯号,并且透过开关模组耦接至检测探针。检测探针用来耦接至受测晶片的测试端。藉此,在受测晶片收到一测试电源而从测试端输出测试回应讯号时,检测探针就可以接收此测试回应讯号。另外,开关模组可以依据测试电源的状态,而决定是否将检测探针所接收的测试回应讯号导通至讯号线。 |
申请公布号 |
TWI362496 |
申请公布日期 |
2012.04.21 |
申请号 |
TW097107731 |
申请日期 |
2008.03.05 |
申请人 |
南亚科技股份有限公司 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |
发明人 |
许家齐 |
分类号 |
G01R31/02;G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;叶璟宗 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |