可模拟系统测试之晶片测试分类机

摘要

本发明是关于一种可模拟系统测试之晶片测试分类机，先于机台上设有温控室，温控室之底板设置一测试座，机械臂之下压杆下方组设有真空吸嘴用以吸取待测晶片，嗣将下压杆下压深入温控室内使得待测晶片对应抵紧测试座并与模拟系统电路板电性连接，同时下压杆中段之盖板也盖合密闭住温控室之上开口，使温控室内形成一密闭容室。此时，通入高温或低温气体至温控室内，可令待测晶片在高温或低温环境下，分别透过模拟系统电路板作系统等级之模拟测试。若于温控室增设导出管快速抽出温控室内气体，更可缩短不同温度变换时之系统测试时程。