发明名称 半导体记忆装置
摘要 今日随着微细化的进展,针对用于取代SRAM之半导体记忆体之需求孔急。然而,如何实现兼具与逻辑电晶体之制程整合性、及降低成本,是待解决之问题。;本发明系在同一晶片内具有逻辑部与记忆体部之半导体装置;其特征在于,记忆体部之单位记忆格至少具有二个电晶体;上述一个电晶体系实施储存电荷存取之写入电晶体;上述其他电晶体系读出电晶体,其系依存于写入电晶体所存取之储存电荷量,使设置于其源极汲极间之电导产生变化者;上述读出电晶体系使用比逻辑部之电晶体更厚之闸极绝缘膜者;上述读出电晶体系使用与逻辑部相同之扩散层结构者。
申请公布号 TWI365453 申请公布日期 2012.06.01
申请号 TW094117706 申请日期 2005.05.30
申请人 瑞萨电子股份有限公司 日本 发明人 石井智之;峰利之;佐野聪明;龟代典史
分类号 G11C11/401 主分类号 G11C11/401
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 日本