发明名称 PROCÉDÉ DE FORMATION D'UNE COUCHE EPITAXIEE, EN PARTICULIER SUR DES RÉGIONS DE SOURCE ET DE DRAIN DE TRANSISTOR A APPAUVRISSEMENT TOTAL
摘要 <p>Procédé comprenant : (a) une épitaxie d'une couche d'un matériau semi-conducteur sur une structure semi-conductrice monocristalline (S,D) et sur une structure semi-conductrice polycristalline (G), (b) une gravure de ladite couche épitaxiée de manière à conserver une épaisseur non nulle dudit matériau sur la structure monocristalline (S,D) et une épaisseur nulle sur la structure polycristalline (G), (c) au moins une répétition de l'étape (a) avec le même matériau ou un matériau différent, lesdites structures monocristallines (S,D) et polycristallines (G) étant respectivement celles obtenues à l'issue de l'étape (b) précédente, et au moins une répétition de l'étape (b), jusqu'à obtenir une épaisseur désirée (EE) pour l'empilement de couches épitaxiées sur ladite structure monocristalline (S,D).</p>
申请公布号 FR2973566(A1) 申请公布日期 2012.10.05
申请号 FR20110052821 申请日期 2011.04.01
申请人 STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS;STMICROELECTRONICS SA 发明人 DUTARTRE DIDIER;CAMPIDELLI YVES;PELLISSIER-TANON DENIS;LOUBET NICOLAS
分类号 H01L21/8232;H01L21/205 主分类号 H01L21/8232
代理机构 代理人
主权项
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