| 摘要 |
<p>본 발명은 전기품질 분석을 위한 시간영역에서 왜곡파형의 고조파 요소 측정방법에 관한 것으로서, 특히 시간영역에서의 연산을 통해 프로세서 부분인 CPU(Central Processing Uint) 및 하드웨어의 연산량을 줄여주어 저장용량을 확보할 수 있도록 하고, 이를 통해 전력계통 내의 전압 및 전류 파형의 샘플링 횟수를 증가시킬 수 있도록 하여 보다 정밀하게 왜곡파형의 고조파 요소를 측정할 수 있도록 하는 효과를 기대할 수 있다.</p> |
