发明名称 |
具有内屏蔽体之封装结构及其制造方法 |
摘要 |
本发明系关于一种具有内屏蔽体之封装结构及其制造方法。该封装结构包括一基板、复数个电子元件、一封胶体、一内屏蔽体及一遮蔽层。该等电子元件系位于该基板上。该封胶体系位于该基板之一表面上,且包覆该等电子元件,且包括至少一沟槽。该沟槽系贯穿该封胶体之一上表面及一下表面,位于该等电子元件之间,且该沟槽之一短边与该封胶体之一侧面之间具有一间距。该内屏蔽体系位于该沟槽内,且电性连接至该基板。该遮蔽层系覆盖该封胶体及该基板之一侧面,且电性连接该基板及该内屏蔽体。藉此,该内屏蔽体可使该等电子元件之间具有低电磁干扰及高电磁容忍性。 |
申请公布号 |
TWI393239 |
申请公布日期 |
2013.04.11 |
申请号 |
TW098135147 |
申请日期 |
2009.10.16 |
申请人 |
日月光半导体制造股份有限公司 高雄市楠梓加工区经三路26号 |
发明人 |
廖国宪;陈建成 |
分类号 |
H01L23/60;H01L23/28 |
主分类号 |
H01L23/60 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡东贤 台北市松山区敦化北路201号7楼;林志育 高雄市前镇区复兴四路12号9楼之13 |
主权项 |
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地址 |
高雄市楠梓加工区经三路26号 |