二极体晶片的量测装置及量测方法

摘要

本发明是有关于一种二极体晶片的量测装置及量测方法。二极体晶片设置于热传导元件上。量测装置会先量测二极体晶片的瞬间启动电流，并量测热传导元件之对应于瞬间启动电流的第一温度。当二极体晶片开始操作之后，量测装置再将热传导元件之温度调整至第二温度，以使二极体晶片的电流等于上述的瞬间启动电流。量测装置依据二极体晶片的实功率以及第一温度和第二温度之间的温度差，计算二极体晶片的属性。