相邻晶片损伤侦测系统

摘要

一种包含一测试器的系统，该测试器配置用于测量来自相邻晶片之一第一晶片的一第一电流及来自相邻晶片之一第二晶片的一第二电流。该测试器被配置用于将该第一电流与该第二电流进行比较以侦测该相邻晶片中的损害。