发明名称 |
半导体元件及其制造方法 |
摘要 |
本发明系揭露一种半导体元件与制作此半导体元件的方法。根据本发明之半导体元件包含有基板、穿隧层、铪钆奈米晶粒层、控制氧化层以及闸极。其中,基板具有源极和汲极,而穿遂层形成于基板上并位于源极以及汲极之间。铪钆奈米晶粒层形成于穿隧层上,特别地,铪钆奈米晶粒层中包含复数个奈米晶粒。此外,控制氧化层形成于铪钆奈米晶粒层上,而闸极则形成于该控制氧化层上。 |
申请公布号 |
TWI401806 |
申请公布日期 |
2013.07.11 |
申请号 |
TW097146837 |
申请日期 |
2008.12.02 |
申请人 |
国防部军备局中山科学研究院 桃园县龙潭乡佳安村佳安段481号 |
发明人 |
赖朝松;方友清;徐立;王惠君;邹百麒 |
分类号 |
H01L29/788;H01L21/336;H01L21/28 |
主分类号 |
H01L29/788 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
桃园县龙潭乡佳安村佳安段481号 |