发明名称 |
校正装置、校正方法、测试装置,以及测试方法 |
摘要 |
本发明提供一种校正装置,对输出抖动测定信号的抖动测定电路进行校正,上述抖动测定信号与输入信号中所包含的抖动量相对应,上述校正装置包括:信号输入部,将具有第1周期的第1上述输入信号、与具有第2周期的第2上述输入信号依序输入至抖动测定电路;以及增益计算部,根据抖动测定信号来计算抖动测定电路的增益,其中上述抖动测定信号是抖动测定电路分别针对第1输入信号以及第2输入信号而输出的抖动测定信号。 |
申请公布号 |
TWI401458 |
申请公布日期 |
2013.07.11 |
申请号 |
TW096113773 |
申请日期 |
2007.04.19 |
申请人 |
爱德万测试股份有限公司 日本 |
发明人 |
石田雅裕 |
分类号 |
G01R35/02;G01R29/26;G01R31/28 |
主分类号 |
G01R35/02 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
日本 |