发明名称 校正装置、校正方法、测试装置,以及测试方法
摘要 本发明提供一种校正装置,对输出抖动测定信号的抖动测定电路进行校正,上述抖动测定信号与输入信号中所包含的抖动量相对应,上述校正装置包括:信号输入部,将具有第1周期的第1上述输入信号、与具有第2周期的第2上述输入信号依序输入至抖动测定电路;以及增益计算部,根据抖动测定信号来计算抖动测定电路的增益,其中上述抖动测定信号是抖动测定电路分别针对第1输入信号以及第2输入信号而输出的抖动测定信号。
申请公布号 TWI401458 申请公布日期 2013.07.11
申请号 TW096113773 申请日期 2007.04.19
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 石田雅裕
分类号 G01R35/02;G01R29/26;G01R31/28 主分类号 G01R35/02
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本