发明名称 制作埋藏式位元线与单侧位元线接触窗之方法及结构
摘要 一种制作埋藏式位元线之方法,包含有提供一半导体基底;进行一第一蚀刻制程,于该基底内形成复数个第一沟渠;于该等第一沟渠内形成一第一保护层;进行一第二蚀刻制程,于该等第一沟渠底部形成复数个第二沟渠;于该等第二沟渠内形成一第二保护层与一第三保护层;移除部分该第一保护层暴露出部分该第一沟渠之侧壁;于该等第一沟渠之侧壁形成一第四保护层;移除部分该第一保护层与该第三保护层,形成复数个开口;透过该开口于该基底内形成一接触窗;以及于该第一沟渠与该第二沟渠内形成一金属复合层。
申请公布号 TWI404171 申请公布日期 2013.08.01
申请号 TW098139343 申请日期 2009.11.19
申请人 台湾创新记忆体股份有限公司 新竹市公道五路2段180号 发明人 戎乐天;林永昌
分类号 H01L21/768;H01L21/3205;H01L21/8242 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3;吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项
地址 新竹市公道五路2段180号