发明名称 光阻涂布显影装置及光阻涂布显影方法
摘要 本发明旨在提供一种光阻涂布显影装置及光阻涂布显影方法,可避免制程蒙气之污染,并同时高效率地减低光阻图案之线宽粗糙度。;其中光阻涂布显影装置1包含:光阻膜形成部,在基板W上涂布光阻以形成光阻膜;光阻显影部18,使经曝光之光阻膜显影;溶剂气体产生部,产生含有对光阻膜具有溶解性之溶剂蒸气或气体之气体;溶剂气体调整部,调整藉由气体产生部产生之气体;处理室62,收纳有具有于光阻显影部18显影而图案化之光阻膜之基板,可维持减压状态,其中包含气体供给部,以对经收纳之基板W供给藉由溶剂气体调整部调整之气体;及排气部,使处理室排气至减压状态。
申请公布号 TWI404121 申请公布日期 2013.08.01
申请号 TW099131067 申请日期 2010.09.14
申请人 东京威力科创股份有限公司 日本 发明人 稻富裕一郎
分类号 H01L21/027;B05C11/06 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人 周良谋 新竹市东大路1段118号10楼;周良吉 新竹市东大路1段118号10楼
主权项
地址 日本