发明名称 |
变频器故障检测方法 |
摘要 |
一种变频器故障检测方法,系用以检出变频器中主电路任一个功率电晶体之故障,至少包含下列步骤:模拟上述多个功率电晶体故障之多个特征值,以建立一故障物元模型。利用一可拓类神经网路学流程与上述故障物元模型,建立一权重值矩阵。利用故障物元模型与权重值矩阵建立一判断系统。以及,输入一笔待测资料,并利用判断系统进行一辨识流程,以判断此笔待测资料所代表之一故障功率电晶体。 |
申请公布号 |
TWI408387 |
申请公布日期 |
2013.09.11 |
申请号 |
TW098120833 |
申请日期 |
2009.06.22 |
申请人 |
国立勤益科技大学 台中市太平区中山路1段215巷35号 |
发明人 |
赵贵祥 |
分类号 |
G01R31/28;G06N3/02 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼 |
主权项 |
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地址 |
台中市太平区中山路1段215巷35号 |