半导体记忆装置及用于该半导体记忆装置的平行测试方法

摘要

本发明揭示一种半导体记忆装置及用于该半导体记忆装置的平行测试方法。该测试包括同时地写入资料于多个记忆储存库中，从该等记忆储存库之一部分读取该等资料，压缩该等读取资料，及输出该等压缩资料至一晶片外面。